数字系统测试和可测性设计pdf_数字系统测试中的可测性设计要点

# 标题：数字系统测试与可测性设计

**一、数字系统测试的重要性**

数字系统日益复杂，测试成为确保其正确性和可靠性的关键。在数字系统的生命周期中，测试能发现设计和制造过程中的缺陷。从硬件角度看，测试有助于检测芯片中的物理故障，如短路、开路等。从软件方面而言，可检验逻辑功能是否符合预期。

**二、可测性设计（dft）**

可测性设计是为了提高数字系统测试效率的技术。例如，扫描链技术将内部寄存器连接成可控制和观测的链。边界扫描则方便了对芯片引脚及内部逻辑的测试。通过dft，可以降低测试成本、缩短测试时间。它使测试人员能够更方便地施加测试激励，并准确获取测试响应，从而高效地检测出数字系统中的故障。这在现代大规模数字集成电路设计中具有不可替代的重要性。

数字系统芯片可测性设计

《数字系统芯片可测性设计》

数字系统芯片的复杂性日益增加，可测性设计变得至关重要。可测性设计旨在提高芯片测试的效率和准确性。

在芯片设计阶段，通过增加测试结构来实现可测性。例如，扫描链技术将芯片内的寄存器连接成一个可移位的长链，便于输入测试向量并观察输出结果。边界扫描技术则针对芯片的输入输出引脚，能够有效检测芯片间的连接是否正确。

这些可测性设计方法可以缩短测试时间、降低测试成本。它有助于在芯片制造过程中快速定位故障，提高芯片成品率。同时，在芯片投入使用后的维护和故障排查方面也提供了极大的便利，确保数字系统芯片能稳定可靠地运行。

数字测量系统

《数字测量系统：精确与高效的测量之道》

数字测量系统在现代诸多领域发挥着至关重要的作用。它基于数字化技术，与传统测量方式相比，具有显著优势。

在精度上，数字测量系统能够提供更准确的数值。例如在工程测量中，对于微小的长度、角度变化都能精确捕捉，误差极小。其工作原理是将被测量的物理量转换为数字信号，再通过内置算法进行处理。

操作方面，数字测量系统往往配备直观的数字显示屏，使用者能快速读取数据。而且，它还可以方便地与计算机等设备连接，实现数据的传输与进一步分析。在科研、工业制造、建筑等行业，数字测量系统不断推动着测量工作朝着更精确、高效、智能化的方向发展。

测试与可测性设计

《测试与可测性设计》

在现代工程和技术领域，测试是确保产品质量和可靠性的关键环节。有效的测试能够发现设计和制造过程中的缺陷，避免故障在实际使用中出现。

可测性设计则是在产品设计初期就考虑测试需求的理念。它有助于降低测试成本、提高测试效率。例如在集成电路设计中，通过增加测试点、设计特殊的电路结构，使内部节点可被方便地观测和控制。

良好的可测性设计能够实现自动化测试，减少人工干预带来的误差。这不仅在硬件设计中重要，在软件系统中同样如此。合理的模块划分、接口设计方便对软件功能进行单独测试。总之，重视测试并进行可测性设计是提升产品竞争力的重要举措。